北廣精儀儀器設(shè)備有限公司（專(zhuān)業(yè)的薄膜50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀生產(chǎn)商）   50點(diǎn)耐壓試驗(yàn)儀電極的要求如下    

關(guān)于薄膜50點(diǎn)擊穿試驗(yàn)儀對(duì)電極的要求，這是一個(gè)非常專(zhuān)業(yè)且關(guān)鍵的問(wèn)題。電極的規(guī)格和狀態(tài)直接影響到電場(chǎng)分布，從而對(duì)擊穿電壓測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性、重復(fù)性和可比性至關(guān)重要。

以下是薄膜擊穿試驗(yàn)儀（特別是進(jìn)行50點(diǎn)測(cè)試時(shí)）對(duì)電極系統(tǒng)的核心要求，綜合了主流國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（如IEC60243-1,ASTMD149）的常見(jiàn)規(guī)定：

一、核心要求概述

1.材料：電極必須由導(dǎo)電性良好、耐腐蝕、不生銹的材料制成：

黃銅或不銹鋼：機(jī)械強(qiáng)度好，易于加工。

有時(shí)會(huì)采用銀或鍍鉻處理，以進(jìn)一步提高表面光潔度和抗腐蝕能力。

2.表面光潔度：電極的工作表面必須高度光滑和平整。通常要求表面粗糙度Ra≤0.4μm（甚至更高要求Ra≤0.1μm）。任何微小的毛刺、劃痕或凹陷都會(huì)導(dǎo)致電場(chǎng)局部集中，使擊穿在非正常位置發(fā)生，導(dǎo)致測(cè)試值偏低且分散性大。

3.幾何形狀與尺寸：這是最關(guān)鍵的要求，根據(jù)不同的電極類(lèi)型有明確規(guī)定。薄膜測(cè)試的是上電極-球狀和下電極-板狀的組合。

二、常用電極類(lèi)型及具體要求

薄膜測(cè)試中最主流的電極系統(tǒng)是“球-板"電極系統(tǒng)。

1.球電極(UpperElectrode-上電極)

形狀：標(biāo)準(zhǔn)的圓球體。

直徑：最常見(jiàn)的是20mm±0.5mm或25mm±0.5mm。IEC60243-1標(biāo)準(zhǔn)中提供了多種選項(xiàng)（如6mm,8mm,10mm,15mm,20mm,25mm,30mm,40mm,50mm,75mm），但針對(duì)薄膜材料，20mm和25mm是泛使用的。

作用：球電極的曲率半徑是固定的，確保了與樣品接觸點(diǎn)（理論上是一個(gè)點(diǎn)）的電場(chǎng)分布一致。其重量（重量）也作為施加在試樣上的壓力。

2.板電極(LowerElectrode-下電極)

形狀：平整的圓形板或圓柱體。

直徑：至少應(yīng)比上電極（球）的直徑大，以確保電場(chǎng)均勻穿過(guò)樣品，避免邊緣效應(yīng)。通常要求板電極的直徑不小于25mm，常見(jiàn)的是25mm或更大（如50mm或75mm）。

倒角：板電極的邊緣必須加工成圓角倒角，以防止邊緣電場(chǎng)畸變。倒角半徑通常為3mm±0.5mm。

表面：必須與上電極一樣，保持的光潔度和平整度。

3.其他電極類(lèi)型（較少用于薄膜多點(diǎn)測(cè)試）

等直徑圓柱電極：上下電極都是相同直徑（例如25mm）的圓柱，端部邊緣有倒角。這種電極對(duì)樣品的平整度和電極的平行度要求，否則容易產(chǎn)生不均勻電場(chǎng)。

錐形電極：適用于特定標(biāo)準(zhǔn)，在薄膜測(cè)試中不常見(jiàn)。

三、針對(duì)“50點(diǎn)試驗(yàn)"的特殊要求

“50點(diǎn)測(cè)試法"或“階梯測(cè)試法"是為了高效地統(tǒng)計(jì)一批薄膜材料的擊穿電壓分布情況，對(duì)電極的一致性和耐久性提出了更高要求。

1.一致性：50個(gè)點(diǎn)是在同一片樣品或同批樣品的多個(gè)樣品上測(cè)試的。因此，每個(gè)測(cè)試點(diǎn)之間，電極的狀態(tài)必須相同。任何微小的變化（如磨損、沾染）都會(huì)引入誤差，導(dǎo)致數(shù)據(jù)分散性變大。

2.清潔與維護(hù)：

每次測(cè)試前和后，都必須用合適的溶劑（如異丙醇、乙醇）和無(wú)絨布（如麂皮布）仔細(xì)清潔電極表面，去除上次擊穿產(chǎn)生的碳化物、金屬濺射物和灰塵。

定期檢查電極表面是否有磨損、氧化或損傷。一旦發(fā)現(xiàn)任何不符合光潔度要求的情況，應(yīng)立即更換或重新拋光電極。

3.對(duì)齊與平行度：上下電極的軸線(xiàn)必須嚴(yán)格對(duì)齊，并且保持平行。在“球-板"系統(tǒng)中，要確保球電極能夠自由擺動(dòng)，使其與下電極表面自然貼合，保證接觸點(diǎn)受力均勻。

四、標(biāo)準(zhǔn)參考總結(jié)表

|參數(shù)|要求（以最常見(jiàn)規(guī)格為例）|說(shuō)明|

|電極系統(tǒng)球-板電極，對(duì)試樣厚度變化不敏感，電場(chǎng)分布較合理|

|上電極（球）|直徑20mm或25mm|公差通常為±0.5mm|

|下電極（板）|直徑≥25mm(如25mm,50mm)|必須大于上電極直徑|

|邊緣倒角|半徑3mm±0.5mm(板電極)|防止邊緣放電|

|表面光潔度|Ra≤0.4μm(推薦Ra≤0.1μm)|關(guān)鍵指標(biāo)，直接影響數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性|

|電極材料|黃銅、不銹鋼（鍍鉻）|導(dǎo)電性好，堅(jiān)硬，耐腐蝕|

|壓力|球電極自重(約50gfor25mm球)或規(guī)定接觸力|標(biāo)準(zhǔn)通常有規(guī)定，避免過(guò)大壓力壓薄試樣|

五、重要建議

1.首要遵循標(biāo)準(zhǔn)：您的測(cè)試必須首先遵循您所執(zhí)行的具體產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T,IEC,ASTM等）。標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)電極有和明確的規(guī)定。

2.咨詢(xún)?cè)O(shè)備供應(yīng)商：購(gòu)買(mǎi)設(shè)備時(shí)，向供應(yīng)商明確您的測(cè)試材料（薄膜厚度、類(lèi)型）和遵循的標(biāo)準(zhǔn)，確保他們提供的電極系統(tǒng)符合要求。

3.建立維護(hù)規(guī)程：將電極的清潔和檢查作為標(biāo)準(zhǔn)操作流程（SOP）的一部分，確保測(cè)試結(jié)果的長(zhǎng)期可靠性和可比性。

總之，對(duì)于薄膜50點(diǎn)擊穿試驗(yàn)，使用光潔度高、尺寸精確、維護(hù)良好的“球-板"電極系統(tǒng)（如20mm/25mm球?qū)?/span>25mm/50mm板）是獲得準(zhǔn)確、可重復(fù)數(shù)據(jù)的關(guān)鍵前提。