層壓板電氣強度試驗儀結果調(diào)?。涸囼灲Y果保存調(diào)取 、人員選定調(diào)去 、試驗結果可根據(jù)客戶要求操作整理 、支持5次以上彩線對比、自動整取添加試驗數(shù)據(jù)。

01、輸入電壓： 交流 220 V

02、輸出電壓： 交流 0--50KV ;

             直流 0—50kv

03、電器容量：3KVA

04、高壓分級：0—50KV，（全程可調(diào)）

05、升壓速率：0.1KV/s-5kv/s 可調(diào)

              （備注：滿足標準要求并可以根據(jù)用戶需求設定不同的升壓速率）

06、試驗方式：

           直流試驗：1、勻速升壓  2、梯度升壓 3、耐壓試驗

           交流試驗：1、勻速升壓 2、梯度升壓 3、耐壓試驗

07、試驗介質：空氣

層壓板電氣強度試驗儀報告

除非另有規(guī)定，報告應包括如下內(nèi)容

a) 介電擊穿測試儀（介電擊穿試驗）被試材料的全稱，試樣及其制備方法的說明；

b) 介電擊穿測試儀（介電擊穿試驗）電氣強度的中值<以kV/mm表示>或擊穿電壓的中值（以kV表示）；

c) 介電擊穿測試儀（介電擊穿試驗）每個試樣的厚度<見5.4)；

d) 試驗時所用的周圍媒質及其性能；

e) 電極系統(tǒng)；

f) 施加電壓的方式及頻率；

g) 電氣強度的各個值（以kV/mm表示>或擊穿電壓的各個值<以kV表示）；

h) 在空氣中或在其他氣體中試驗時的溫度、壓力和濕度，若在液體中試驗時周圍媒質的溫度；

i) 試驗前條件處理；

j）擊穿類型和位置的說明。

如果只需要簡單的結果報告，則應該報告前6項內(nèi)容及低值和醉高值。

溫度——試樣和環(huán)境介質的溫度將影響絕緣強度，雖然對于大多數(shù)材料來說，微小的環(huán)境溫度變化對材料造成影響可以忽略不計。通常，絕緣強度隨溫度的升高而降低，但其強度的極限取決于被測材料。由于材料需要室溫以外的條件下發(fā)揮作用，所以有必要在比期望操作溫度更大的范圍里，對絕緣強度與溫度的關系進行確定。時間——電壓應用的速率也會影響測試結果。通常，擊穿電壓隨電壓應用速率的增加而提高。這是預料之中的，因為熱擊穿機制有賴于時間，而放電機制也有賴于時間，雖然在一些情況下，后一種機制通過產(chǎn)生局部電場高臨界強度造成快速失效波形——通常，應用電壓的波形也會影響絕緣強度。在本測試方法的限制說明中，波形的影響是不顯著的。頻率——對于本測試法，在工業(yè)用電頻率范圍內(nèi)，頻率的變化對絕緣強度的影響將不是那么顯著。但是，不能從本測試法所得結果中推斷出其他非工業(yè)用電頻率（50到60HHz）對絕緣強度的影響。

固有擊穿——如果放電或熱穩(wěn)定性都不能造成擊穿，那么在電場強度大到足以加速電子穿過材料時，仍將發(fā)生擊穿。標準電場強度被稱為固有絕緣強度。雖然機制本身也許已經(jīng)涉及，但本測試法仍不能測試固有絕緣強度。絕緣材料的性質固態(tài)工業(yè)絕緣材料通常是非均勻的，且含有許多不同的電介質缺陷。試樣上常常發(fā)生擊穿的區(qū)域，并不是那些電場強度最大的區(qū)域，有時甚至是那些遠離電極的區(qū)域。在應力下卷中的薄弱環(huán)節(jié)有時將決定測試的結果。 測試和測試樣狀況的影響因素——通常，隨著電極區(qū)域的增加，擊穿電壓會降低，這種影響對于薄試樣來說更為明顯。電極的幾何形狀也會影響測試的結果。制作電極的材料也會對測試結果產(chǎn)生影響，這是因為電極材料的熱導性和功函會對熱機制和發(fā)電機制產(chǎn)生影響。通常來說，由于缺乏相關的實驗數(shù)據(jù)，所以很難確定電極材料的影響。試樣厚度——固體工業(yè)絕緣材料的絕緣強度主要取決于試樣的厚度。經(jīng)驗顯示，對于固體和半固體材料來說，絕緣強度與以試樣厚度為分母的分數(shù)成反比，更多的證據(jù)顯示，對于相對均勻的固體來說，絕緣強度與厚度的平方根互為倒數(shù)。如果固體試樣能熔化后倒入到固定電極之間并凝固下來，那么電極間距的影響將很難得到明確的定義。因為在這種情況下，可以隨意固定電極間距，所以習慣在液體或可溶固體中進行絕緣強度測試，此時電極間具有標準的固定空間。因為絕緣強度取決于厚度，所以如果在報告絕緣強度數(shù)據(jù)時缺乏測試所用試樣的起始厚度，那么這樣的數(shù)據(jù)將毫無意義。

簡要回顧了擊穿的三種假定機制，分別是：（1）放電或電暈機制，（2）熱機制，以及（3）固有機制，討論了在原理上對實際電介質產(chǎn)生影響的因素，并對數(shù)據(jù)的解釋提供幫助。擊穿機制常常與其他機制相結合，而非單獨發(fā)揮效用。隨后的討論僅針對固體和半固體材料。介電擊穿的假定機制由放電造成的擊穿——在對工業(yè)材料進行的許多測試中，都是由于放電造成了擊穿，這通常造成較高的局部場。對于固體材料來說，放電常常發(fā)生在環(huán)境介質中，因此增加測試的區(qū)域將在電極邊緣上或外側產(chǎn)生擊穿。放電也會發(fā)生在內(nèi)部出現(xiàn)或生成的一些泡沫或氣泡里。這會造成局部的侵蝕或化學分解。這些過程將一直持續(xù)到在電極間形成的失效通路為止。熱擊穿——在置于高強度電場時，在許多材料內(nèi)的局部路徑上會積聚大量的熱，這將造成電介質和離子導電性能的損失，進而迅速產(chǎn)生熱量，所產(chǎn)生的熱量將大于所能耗散掉的熱量。由于材料的熱不穩(wěn)定性，導致了擊穿的發(fā)生。

耐電壓擊穿試驗儀調(diào)節(jié)大多數(shù)固體絕緣體的擊穿強度都受到溫度和濕度的影響。因此在測試前，受此影響的材料應用控制好的溫度和相對濕度進行平衡。對于這種材料，調(diào)節(jié)應包括在參照本測試法的標準中。除非另有說明。否則應按D618操作規(guī)程進行后續(xù)流程。對于許多材料來說，濕度對擊穿強度的影響要大于溫度的影響。對材料進行足夠長時間的調(diào)節(jié)，以使得測試樣同時達到濕度和溫度的平衡。如果調(diào)節(jié)時導致測試樣表面出現(xiàn)凝結水，應在測試前將測試樣表面擦干。通常這樣可以減少表面閃絡的可能性。

耐電壓擊穿試驗儀流程（注意：在開始任何測試前請參見第7章。）電壓使用的方法：方法A，快速測試法—如圖1所示，從零點到擊穿發(fā)生，以一定的增壓速度，將均勻的電壓施加到試驗電極上。除非另有說明，否則將采用快速測試法。在確定增壓速度時，為了使增速包含在新的規(guī)定值中，對于給定的測試樣，應選擇在10到20s內(nèi)就發(fā)生擊穿的增速。在某些場合，有必要進行1到2次的預測試，以確定增速。對于大多數(shù)材料而言，使用500V/s的增速。如果文件參考本測試方法所的增速，那么即使擊穿時間偶然出現(xiàn)在10到20s的范圍之外，也應繼續(xù)采用。如果出現(xiàn)這種情況，應在報告中記錄下失效次數(shù)。